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探针模组及 LED 芯片测试系统

9/20/2024 3:16:08 PM
导读:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司取得一项名为“探针模组及LED芯片测试系统“,授权公告号CN221726105U,申请日期为2023年12月。专利摘要显示,本实用新型公开了一种探针模组及LED芯片测试系统,探针模组包括承力部和压力传感器。承力部沿其长度方向的一端用于安装探针,承力部设有贯穿孔,贯穿

矽电半导体设备(深圳)股份有限公司取得一项名为“探针模组及 LED 芯片测试系统“,授权公告号 CN221726105U,申请日期为 2023 年 12 月。


专利摘要显示,本实用新型公开了一种探针模组及 LED 芯片测试系统,探针模组包括承力部和压力传感器。承力部沿其长度方向的一端用于安装探针,承力部设有贯穿孔,贯穿孔的孔壁的两个相对位置分别设有第一支撑部和第二支撑部,第一支撑部和第二支撑部布置在承力部的形变方向上、且在承力部产生形变时相抵以用于防止承力部形变过度。压力传感器对应于贯穿孔的孔壁设置在承力部的外壁。探针抵压待测芯片时,承力部产生弹性形变,贯穿孔沿形变方向产生挤压,第一支撑部和第二支撑部在形变即将过度时相互抵接,阻止承力部对应贯穿孔的位置处进一步产生变形,在一定程度上避免压力传感器的量程超载而使得压力传感器失效,延长压力传感器的使用寿命,降低测试成本。


信息来源:金融界


 
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